快速鏈接
EN
400-880-1456
400-880-1456
在不損傷被測(cè)材料的情況下，檢查材料的內(nèi)在或表面缺陷，或測(cè)定材料的某些物理量、性能、組織狀態(tài)等的檢測(cè)技術(shù)。廣泛用于金屬材料、非金屬材料、復(fù)合材料及其制品以及一些電子元器件的檢測(cè)。常用的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)有：
1. 射線探傷
利用X射線或γ射線在穿透被檢物各部分時(shí)強(qiáng)度衰減的不同，檢測(cè)被檢物的缺陷。
若將受到不同程度吸收的射線投射到X射線膠片上，經(jīng)顯影后可得到顯示物體厚度變化和內(nèi)部缺陷情況的照片。如用熒光屏代替膠片，可直接觀察被檢物體的內(nèi)部情況。
2. 超聲檢測(cè)
利用物體自身或缺陷的聲學(xué)特性對(duì)超聲波傳播的影響，來(lái)檢測(cè)物體的缺陷或某些物理特性。在超聲檢測(cè)中常用的超聲頻率為0.5～5兆赫（MHz）。最常用的超聲檢測(cè)是脈沖反射式探傷。
3. 磁粉探傷
通過(guò)磁粉在物體缺陷附近漏磁場(chǎng)中的堆積來(lái)檢測(cè)物體表面或近表面處的缺陷，被檢測(cè)物體必須具有鐵磁性。
4. 滲透探傷
利用某些液體對(duì)狹窄縫隙的滲透性來(lái)探測(cè)表面缺陷。常用的滲透液為含有有色染料或熒光的液體。
5. 渦流檢測(cè)
由于渦流的大小隨工件內(nèi)有沒(méi)有缺陷而不同，所以線圈電流變化的大小能反映有無(wú)缺陷。
此外，中子射線照相法、激光全息照相法、超聲全息照相法、紅外檢測(cè)、微波檢測(cè)等無(wú)損檢測(cè)新技術(shù)也得到了發(fā)展和應(yīng)用。
想了解更多日聯(lián)科技X-ray檢測(cè)裝備信息可以撥打全國(guó)服務(wù)熱線：400-880-1456 或訪問(wèn)日聯(lián)科技官網(wǎng)：m.skf168.com
